El Módulo III - Cursos de especialización, del que forma
parte esta asignatura, incluye una selección de asignaturas en temas
especializados que permitirán al alumno diseñar, con la ayuda de su tutor, el
conjunto de conocimientos y habilidades que mejor se adapten a sus
expectativas investigadoras o laborales. El alumno deberá cursar un total de 6
ECTS en este módulo.
Varias de las asignaturas ofertadas en este módulo se imparten en forma de
cursos intensivos internacionales de una semana de duración abiertos a
estudiantes no inscritos en el Máster, con el objetivo de diversificar y
enriquecer el entorno de formación de los estudiantes con un mayor número y
variedad de profesores y compañeros (futuros colegas y colaboradores).
Por la naturaleza de la enseñanza en este módulo, las asignaturas, en especial
las que se corresponden con cursos internacionales, se impartirán en
diferentes ubicaciones, incluyendo laboratorios extranjeros cuando la
especificidad del tema así lo imponga (por ejemplo, la asignatura de
"Cristalografía en grandes instalaciones"). La oferta de asignaturas, así como
el número máximo de estudiantes en cada asignatura y el mínimo necesario (en
su caso), se fijarán y comunicarán anualmente. Algunas de las asignaturas
correspondientes a cursos internacionales tendrán periodicidad bianual.
La asignatura de Difracción de polvo y métodos de Rietveld
pretende ofrecer a los alumnos un conocimiento fundamental, tanto desde el
punto de vista teórico como desde el aplicado, que les permita extraer la
siguiente información que hay (o puede haber) en los difractogramas de polvo:
Adquirir datos de difracción con la mayor calidad posible en función del
problema a tratar.
(Auto)indexación de difractogramas (al menos los que sean monofásicos).
Refinamiento de una estructura cristalina partiendo de un modelo estructural
aproximado.
Familiarizarse con la resolución 'ab initio' de estructuras cristalinas a
partir de datos de difracción de polvo para estructuras sencillas.
Análisis de fases cuantitativos para muestras que sean mezclas de compuestos
cristalinos.
Familiarizarse con la extracción de información microestructural a partir de
los difractogramas de polvo de alta resolución.
Difracción de polvo y métodos de Rietveld
101181
2016-17
MÁSTER UNIVERSITARIO EN CRISTALOGRAFÍA Y CRISTALIZACIÓN
3
OPTATIVA
Anual
Inglés
La asignatura se estructura en dos bloques temáticos (teoría y précticas):
a) Difracción de polvo y el método de Rietveld (clases teóricas)
Aplicaciones cristalográficas de la difracción de polvo.
Indexación de difractogramas de polvo.
Preparación de muestras y condiciones de medidas en difracción de polvo.
Fundamentos del método de Rietveld.
Descripción de los índices residuales y la extracción de intensidades
integradas.
Estrategias de afinamiento y descripción detallada del perfil. Ejemplo de
aplicaciones con el programa FULLPROF.
Introducción a los métodos de determinación de estructuras cristalinas
ab-initio a partir de datos de polvo: Ejemplos de aplicaciones del programa de
métodos directos XLENS.
Completado del modelo estructural y afinamiento con restricciones geométricas.
Análisis cuantitativo multifásico por el método de Rietveld.
Análisis microestructural a partir de datos de alta resolución.
Bibliotecas de programas y de estructuras. Bibliografía general.
b) Difracción de polvo y el método de Rietveld (sesiones prácticas)
Prácticas de indexación con el programa DICVOL06 y otros programas de
autoindexación incluidos en WinPLOTR/Fullprof. Eliminación manual del fondo
con el entorno gráfico del programa WinPLOTR.
Uso del programa FULLPROF parte (1): "pattern matching" y extracción de
intensidades.
Uso del programa FULLPROF parte (2): afinamientos monofásicos simple. Uso de
un estándar para la calibración del difractómetro.
Uso del programa XLENS con intensidades extraídas en la práctica número 2.
Resolución estructural y afinamiento con restricciones.
Uso del programa FULLPROF parte (3): afinamiento Rietveld de muestras
complejas: datos Cu Ka 1 y radiación sincrotrón.
Uso del programa FULLPROF parte (4): afinamiento Rietveld de muestras
complejas: datos de difracción de neutrones.
Uso del programa FULLPROF parte (5): análisis cuantitativo de mezclas
multifásicas y uso de patrón interno para determinar la cantidad de fase
amorfa.
Uso del programa FULLPROF parte (6): análisis microestructural de fases
complejas.
CG1.- Capacidad de análisis y síntesis
CG2.- Resolución de problemas
CG3.- Trabajo en un equipo de caracter interdisciplinario
CG4.- Trabajo en un contexto internacional
CG5.- Aprendizaje y trabajo autónomos
CG6.- Capacidad de aplicar los conocimientos teóricos en la práctica
CG7.- Capacidad de elaboración y transmisión de ideas, proyectos, informes,
soluciones y problemas
CG8.- Capacidad de organización y planificación
CG9.- Capacidad de entender el lenguaje y propuestas de otros especialistas
CT1.- Comunicación oral y escrita
CT2.- Conocimiento de lenguas extranjeras
CT3.- Capacidad de gestión de la información
CT4.- Habilidades en las relaciones interpersonales
CT5.- Trabajo en equipo
CT6.- Razonamiento crítico
CT7.- Creatividad
CT8.- Uso de Internet como medio de comunicación y fuente de información
CE4.- Entender y valorar artículos científico-técnicos de revistas
especializadas en cristalografía y cristalización
CE23.- Ser capaz de combinar datos procedentes de diferentes equipos
experimentales
CE33.- Comprender los fundamentos de las técnicas de análisis de datos de
difracción en polvo y saber utilizar los programas que las implementan
CE34.- Comprender los fundamentos metodológicos del refinamiento de Rietveld y
saber utilizar los programas que lo implementan
AF1.- Clases presenciales activas: Combinación de teoría, problemas cortos,
preguntas y discusión con los alumnos.
AF4.- Seminarios.
AF5.- Prácticas de computación y bases de datos.
AF6.- Tutoría individual o grupal.
AF7.- Evaluación.
AF8.- Clases prácticas en laboratorio.
AF9.- Planificación, realización y análisis de experimentos (tutelada).
AF10.- Trabajo autónomo.
AF11.- Visitas a empresa o centro de investigación.
AF12.- Trabajo en grupo.
Esta asignatura tiene como objetivo realizar un desarrollo inicial de las
habilidades del alumno en la difracción de polvo y el método de Rietvel,
proporcionándoles las herramientas informáticas (programas), los conocimientos
iniciales y los asesores (los profesores del curso), para que cuando vuelvan a
sus lugares de trabajo puedan continuar el proceso de aprendizaje.
Sistema de evaluación (ponderación mínima y máxima %)
Prueba escrita (0%-80%)
Realización de prácticas y/o cuaderno de prácticas (0%-70%)
Realización y presentación de trabajos e informes (0%-50%)
Participación en seminarios (0%-30%)
Participación en clase (0%-30%)
Asignatura no ofertada en el curso académico 2015-2016
Profesor Responsable de la asignatura
El método de Rietveld. Editor: Esteve, V. (ed). Publicacions de la Universitat
Jaume I. Castellón. (2006).
The Rietveld Method. Young, R. A. (ed). Oxford University Press. Oxford.
(1993).
X-ray Diffraction Procedures. H. P. Klug y L. E. Alexander, (2ª Edición), John
Wiley & Sons, New York (1973).
Synchrotron Radiation Research. (ed.) H Winick. Perseus Books (1980).
Structural and chemical analysis of materials. X-rays, Electron and neutron
diffraction. X-ray, electron and ion spectrometry, Electron microscopy. JP
Eberhart. John Wiley & Sons, Inc. (1991).
Synchrotron Radiation and biophysics. (ed.) SS Hasnain. Ellis Horwood (1991).
Quantitative X-ray Diffractometry. L.S. Zevin y G. Kimmel, Springer, New York
(1995).
Introduction to X-ray Powder Diffractometry. R Jenkins & RL Snyder. John Wiley
(1996).
Characterization of Nanophase Materials. (ed.) Zhong Lin Wang. John Wiley
(1999).
Structure Determination from Powder Diffraction Data. W.I. F. David, K.
Shanklnad, L.B. McCuster y Ch. Baerlocher (Ed.) International Union of
Crystallography. Monographs on Crystallography, nº 13. Oxford University
Press. Oxford (2002).
Fundamentals of Crystallography (2nd ed.). C. Giacovazzo, H.L. Monaco, G.
Altioli, D. Viterbo, G. Ferraris, G. Filli, G. Zanotti and M. Catti. Oxford
Universtiy Press, (2002).
Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of
Materials. VK Pecharsky & PY Zavalij. Kluwer Academic Publishers (2003).
Structure Determination by X-Ray Crystallography. Mark Ladd y Rex Palmer, 4ª
Edición, Kluwer Academic/Plenum. New York (2003).
Este documento puede utilizarse como documentación de referencia de esta asignatura para la solicitud de reconocimiento de créditos en otros estudios. Para su plena validez debe estar sellado por la Secretaría de Estudiantes UIMP.
Descripción no definida
Anual
Créditos ECTS: 3
García Aranda, Miguel Ángel
Profesor Titular de Química Inorgánica
Universidad de Málaga
Masciocchi , Norberto
Catedrático de Química Inorgánica
Universita degli Studi dell'Insubria
Profesor Responsable de la asignatura